| Â Tematyka szkolenia | Â - Wymagania ISO/TS 16949:2002 a systemy pomiarowe
- Podstawowe pojęcia statystyczne związane z MSA
- Charakterystyka pomiarów
- Źródła błędów pomiarowych
- Wzorcowanie i kalibracja, spójność pomiarowa
- Zmienność, liniowość i stabilność w systemach pomiarowych
- Metodyka wyznaczania zdolności urządzenia pomiarowego Cg i Cgk (Procedura I)
- Powtarzalność i odtwarzalność systemu pomiarowego - metoda R&R (Procedura II)
- Wyznaczaniu Cg i Cgk – ćwiczenia praktyczne
- Analiza R&R dla danych ciągłych – ćwiczenia praktyczne
- Błędy I i II rodzaju
- Rodzaje atrybutowych analiz R&R
- Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą analityczną (krótką) - omówienie i ćwiczenia
- Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą wykrywania sygnału - omówienie i ćwiczenia
- Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą wyznaczania współczynnika kappa - omówienie i ćwiczenia
- Wykres zdolności sprawdzianu (GPC – Gauge Performance Curve)
- interpretacja wyników analiz pod kątem identyfikacji przyczyn błędów i doskonalenia kontroli
Â
| | Czas trwania szkolenia | |  1 dzień 8 godzin |
|
