- Analiza systemów pomiarowych według wymagań MSA
- Podstawowe pojęcia statystyczne: próbka, populacja, zmienność w procesie, rozkład normalny, rozkład procesu
- Parametry rozkładu (położenie: średnia, mediana, moda; rozrzut: rozstęp, odchylenie standardowe)
- Histogram jako narzędzie oceny rozkładu procesu
- Podstawowe pojęcia metrologiczne (pomiar, rozdzielczość, wartość rzeczywista, wartość odniesienia, urządzenie pomiarowe)
- Definicja systemu pomiarowego a planowania badań - omówienie modelu PISMOEA
- Aspekty oceny systemów pomiarowych – zmienność i dokładność
- Wpływ systemu pomiarowego na ocenę zdolności procesu
- Badania powtarzalne w ciągłych systemach pomiarowych - wprowadzenie
- Metoda ARM - omówienie
- zasady stosowania, dobór próbek do badania
- interpretacja algorytmu obliczeniowego (MS Excel)
- interpretacja współczynników AV, EV, GRR, PV i TV
- interpretacja współczynnika ndc (number of distinct categories)
- graficzna prezentacja wyników na przykładzie programu Minitab
- Eksperyment: wyznaczanie współczynnika GRR dla wybranych charakterystyk
- Metoda ANOVA - omówienie
- koncepcja analizy wariancji
- pojęcie interakcji i jego praktyczne zastosowania
- porównanie a wyników metodą ARM oraz ANOVA (przykład Minitab)
- interpretacja wyników (obliczenia i wykresy)
- Badanie GRR w systemie bez wpływu operatora: założenia, opis badania, inne modele badania
- Badanie GRR w pomiarach niepowtarzalnych
- założenia teoretyczne (kiedy system należy uznać za niepowtarzalny)
- przygotowanie próbek
- zasady przeprowadzania eksperymentu (model eksperymentu, randomizacja)
- interpretacja wyników – metoda ANOVA
- Atrybutowe systemy pomiarowe – wprowadzenie, przygotowanie próbek, wyznaczanie wartości odniesienia, interpretacja wyników
- Metoda kappa: przygotowanie próbek, przeprowadzanie eksperymentu, interpretacja wyników
- Eksperyment: wykorzystanie metody kappa w ocenie wzrokowej (z decyzją eksperta)
- Metoda detekcji sygnału: przygotowanie próbek, przeprowadzenie eksperymentu, obliczenia i interpretacja wyników
- Metoda analityczna: omówienie, przygotowanie eksperymentu, Gage Performance Curve
- Podsumowanie metod oceny systemów atrybutywnych
- Wymagania specyficzne wybranych klientów a ocena systemów pomiarowych
- wymagania VW na bazie VDA 5 (VW 10119)
- ocena systemów pomiarowych z punktu widzenia niepewności pomiaru
- poziomy oceny – procedury typu I, II i III
- wyznaczanie i interpretacja współczynników Cg i Cgk
- wymagania FORD – na bazie “Ford Customer Specific Requirements for Use with PPAP 4.0”
- Podsumowanie szkolenia – pytania i odpowiedzi
|