MSA - analiza systemów pomiarowych

Zakres szkolenia:
Podstawowe pojęcia i oznaczenia statystyczne – populacja, próbka, reprezentatywność danych Źródła zmienności w procesach – przyczyny ogólne i specjalne Podstawowe parametry rozkładu procesu i ich ocena – wyśrodkowanie, rozrzut, kształt Zmienność w procesie pomiarowym a zmienność procesu produkcyjnego Podstawowe pojęcia metrologiczne (pomiar, rozdzielczość, wartość rzeczywista, wartość odniesienia, urządzenie pomiarowe) Aspekty oceny systemów pomiarowych – powtarzalność, odtwarzalność i dokładność Optymalizacja badań systemów pomiarowych w oparciu o model PISMOEA Wpływ systemu pomiarowego na ocenę zdolności procesu i poprawną kwalifikację wyrobu Procedura typu I (badanie Cg/Cgk) – wstępna ocena powtarzalności i dokładności systemu pomiarowego Procedura typu II - badanie GRR metodą ARM zasady stosowania, dobór próbek do badania interpretacja algorytmu obliczeniowego (MS Excel) interpretacja współczynników AV, EV, GRR, PV i TV interpretacja współczynnika ndc (number of distinct categories) wyznaczanie współczynnika %GG w odniesieniu do zmienności próbek, tolerancji lub zdolności procesu metoda ANOVA - omówienie pojęcie interakcji i jego praktyczne zastosowania porównanie a wyników metodą ARM oraz ANOVA eksperyment pomiarowy: badanie GRR cech ciągłych Procedura typu III (badanie GRR w systemie bez wpływu operatora) - założenia, opis badania Badanie GRR w pomiarach niepowtarzalnych założenia dotyczące analizy systemów do pomiarów niepowtarzalnych przygotowanie próbek – warunki niezbędne do uzyskania pozytywnego wyniku badania zasady przeprowadzania eksperymentu (model eksperymentu, randomizacja) analiza danych metodą ANOVA - interpretacja wyników Atrybutywne systemy pomiarowe: wprowadzenie, przygotowanie próbek, warunki przeprowadzania badania metoda kappa: obliczenia i interpretacja wyników ocena i interpretacja efektywności, fałszywych alarmów oraz błędnych akceptacji. eksperyment pomiarowy: wykorzystanie metody kappa w ocenie wzrokowej metoda detekcji sygnału: warunki stosowania, przygotowanie próbek, przeprowadzenie eksperymentu, obliczenia i interpretacja wyników Zalecenia podręcznika AIAG MSA oraz wymagania normy IATF 16949 w zakresie planowania i oceny systemów pomiarowych Wybrane wymagania specyficzne klientów w zakresie oceny systemów pomiarowych (Ford, VDA) Szczególne przypadki systemów pomiarowych (nieopisane w podręcznikach) Podsumowanie szkolenia – pytania i odpowiedzi
Uczestnicząc w szkoleniu:
Zrozumiesz cele badania systemu pomiarowego. Poznasz składowe wpływające na zmienność pomiaru. Dowiesz się, jak poprawnie dobierać system pomiarowy do ocenianej charakterystyki. Nauczysz się przeprowadzać badania GRR i interpretować uzyskane wyniki. Nauczysz się przeprowadzać badania systemów atrybutywnych i interpretować wyniki. Poznasz wymagania IATF oraz niektórych klientów w zakresie analizy systemów pomiarowych.
Adresaci szkolenia:
W szkoleniu powinna uczestniczyć cała kadra średniego i wyższego szczebla, odpowiedzialna za zapewnianie jakości, a w szczególności pracownicy działów jakości oraz działów pomiarowych odpowiedzialni za dobór i ocenę systemów pomiarowych. Szkolenie jest zalecane również dla osób uczestniczących w procesach projektowych z uwagi na konieczność prawidłowego stosowania MSA w Planach Kontroli.
Czas trwania:
2 dni (16 godzin dydaktycznych)