MSA - analiza systemów pomiarowych

Zakres szkolenia:
Analiza systemów pomiarowych według wymagań MSA Podstawowe pojęcia statystyczne: próbka, populacja, zmienność w procesie, rozkład normalny, rozkład procesu Parametry rozkładu (położenie: średnia, mediana, moda; rozrzut: rozstęp, odchylenie standardowe) Histogram jako narzędzie oceny rozkładu procesu Podstawowe pojęcia metrologiczne (pomiar, rozdzielczość, wartość rzeczywista, wartość odniesienia, urządzenie pomiarowe) Definicja systemu pomiarowego a planowania badań - omówienie modelu PISMOEA Aspekty oceny systemów pomiarowych – zmienność i dokładność Wpływ systemu pomiarowego na ocenę zdolności procesu Badania powtarzalne w ciągłych systemach pomiarowych - wprowadzenie Metoda ARM - omówienie zasady stosowania, dobór próbek do badania interpretacja algorytmu obliczeniowego (MS Excel) interpretacja współczynników AV, EV, GRR, PV i TV interpretacja współczynnika ndc (number of distinct categories) graficzna prezentacja wyników na przykładzie programu Minitab Eksperyment: wyznaczanie współczynnika GRR dla wybranych charakterystyk Metoda ANOVA - omówienie koncepcja analizy wariancji pojęcie interakcji i jego praktyczne zastosowania porównanie a wyników metodą ARM oraz ANOVA (przykład Minitab) interpretacja wyników (obliczenia i wykresy) Badanie GRR w systemie bez wpływu operatora: założenia, opis badania, inne modele badania Badanie GRR w pomiarach niepowtarzalnych założenia teoretyczne (kiedy system należy uznać za niepowtarzalny) przygotowanie próbek zasady przeprowadzania eksperymentu (model eksperymentu, randomizacja) interpretacja wyników – metoda ANOVA Atrybutowe systemy pomiarowe – wprowadzenie, przygotowanie próbek, wyznaczanie wartości odniesienia, interpretacja wyników Metoda kappa: przygotowanie próbek, przeprowadzanie eksperymentu, interpretacja wyników Eksperyment: wykorzystanie metody kappa w ocenie wzrokowej (z decyzją eksperta) Metoda detekcji sygnału: przygotowanie próbek, przeprowadzenie eksperymentu, obliczenia i interpretacja wyników Metoda analityczna: omówienie, przygotowanie eksperymentu, Gage Performance Curve Podsumowanie metod oceny systemów atrybutywnych Wymagania specyficzne wybranych klientów a ocena systemów pomiarowych wymagania VW na bazie VDA 5 (VW 10119) ocena systemów pomiarowych z punktu widzenia niepewności pomiaru poziomy oceny – procedury typu I, II i III wyznaczanie i interpretacja współczynników Cg i Cgk wymagania FORD – na bazie “Ford Customer Specific Requirements for Use with PPAP 4.0” Podsumowanie szkolenia – pytania i odpowiedzi
Uczestnicząc w szkoleniu:
Zrozumiesz cele badania systemu pomiarowego. Poznasz składowe wpływające na zmienność pomiaru. Dowiesz się, jak poprawnie dobierać system pomiarowy do ocenianej charakterystyki. Nauczysz się przeprowadzać badania GRR i interpretować uzyskane wyniki. Nauczysz się przeprowadzać badania systemów atrybutywnych i interpretować wyniki. Poznasz wymagania IATF oraz niektórych klientów w zakresie analizy systemów pomiarowych.
Adresaci szkolenia:
W szkoleniu powinna uczestniczyć cała kadra średniego i wyższego szczebla, odpowiedzialna za zapewnianie jakości, a w szczególności pracownicy działów jakości oraz działów pomiarowych odpowiedzialni za dobór i ocenę systemów pomiarowych. Szkolenie jest zalecane również dla osób uczestniczących w procesach projektowych z uwagi na konieczność prawidłowego stosowania MSA w Planach Kontroli.
Czas trwania:
2 dni (16 godzin dydaktycznych)