Zakres szkolenia:
  • Analiza systemów pomiarowych według wymagań MSA
  • Podstawowe pojęcia statystyczne: próbka, populacja, zmienność w procesie, rozkład normalny, rozkład procesu
  • Parametry rozkładu (położenie: średnia, mediana, moda; rozrzut: rozstęp, odchylenie standardowe) 
  • Histogram jako narzędzie oceny rozkładu procesu
  • Podstawowe pojęcia metrologiczne (pomiar, rozdzielczość, wartość rzeczywista, wartość odniesienia, urządzenie pomiarowe)
  • Definicja systemu pomiarowego a planowania badań - omówienie modelu PISMOEA
  • Aspekty oceny systemów pomiarowych – zmienność i dokładność
  • Wpływ systemu pomiarowego na ocenę zdolności procesu
  • Badania powtarzalne w ciągłych systemach pomiarowych - wprowadzenie
  • Metoda ARM - omówienie
    • zasady stosowania, dobór próbek do badania
    • interpretacja algorytmu obliczeniowego (MS Excel)
    • interpretacja współczynników AV, EV, GRR, PV i TV
    • interpretacja współczynnika ndc (number of distinct categories)
    • graficzna prezentacja wyników na przykładzie programu Minitab
  • Eksperyment: wyznaczanie współczynnika GRR dla wybranych charakterystyk
  • Metoda ANOVA - omówienie
    • koncepcja analizy wariancji
    • pojęcie interakcji i jego praktyczne zastosowania 
    • porównanie a wyników metodą ARM oraz ANOVA (przykład Minitab)
    • interpretacja wyników (obliczenia i wykresy)
  • Badanie GRR w systemie bez wpływu operatora: założenia, opis badania, inne modele badania
  • Badanie GRR w pomiarach niepowtarzalnych
    • założenia teoretyczne (kiedy system należy uznać za niepowtarzalny)
    • przygotowanie próbek
    • zasady przeprowadzania eksperymentu (model eksperymentu, randomizacja)
    • interpretacja wyników – metoda ANOVA
  • Atrybutowe systemy pomiarowe – wprowadzenie, przygotowanie próbek, wyznaczanie wartości odniesienia, interpretacja wyników
  • Metoda kappa: przygotowanie próbek, przeprowadzanie eksperymentu, interpretacja wyników
  • Eksperyment: wykorzystanie metody kappa w ocenie wzrokowej (z decyzją eksperta)
  • Metoda detekcji sygnału: przygotowanie próbek, przeprowadzenie eksperymentu, obliczenia i interpretacja wyników
  • Metoda analityczna: omówienie, przygotowanie eksperymentu, Gage Performance Curve
  • Podsumowanie metod oceny systemów atrybutywnych
  • Wymagania specyficzne wybranych klientów a ocena systemów pomiarowych
    • wymagania VW na bazie VDA 5 (VW 10119)
    • ocena systemów pomiarowych z punktu widzenia niepewności pomiaru
    • poziomy oceny – procedury typu I, II i III
    • wyznaczanie i interpretacja współczynników Cg i Cgk
    • wymagania FORD – na bazie “Ford Customer Specific Requirements for Use with PPAP 4.0”
  • Podsumowanie szkolenia – pytania i odpowiedzi

 

Uczestnicząc w szkoleniu:

  • Zrozumiesz cele badania systemu pomiarowego
  • Poznasz składowe wpływające na zmienność pomiaru
  • Dowiesz się, jak poprawnie dobierać system pomiarowy do ocenianej charakterystyki
  • Nauczysz się przeprowadzać badania GRR i interpretować uzyskane wyniki
  • Nauczysz się przeprowadzać badania systemów atrybutywnych i interpretować wyniki 
  • Poznasz wymagania IATF oraz niektórych klientów w zakresie analizy systemów pomiarowych

Adresaci szkolenia:

W szkoleniu powinna uczestniczyć cała kadra średniego i wyższego szczebla, odpowiedzialna za zapewnianie jakości, a w szczególności pracownicy działów jakości oraz działów pomiarowych odpowiedzialni za dobór i ocenę systemów pomiarowych. Szkolenie jest zalecane również dla osób uczestniczących w procesach projektowych z uwagi na konieczność prawidłowego stosowania MSA w Planach Kontroli.

Czas trwania:
  •  2 dni (16 godzin dydaktycznych)