Zakres szkolenia:
  • Podstawowe pojęcia i oznaczenia statystyczne – populacja, próbka, reprezentatywność danych
  • Źródła zmienności w procesach – przyczyny ogólne i specjalne
  • Podstawowe parametry rozkładu procesu i ich ocena – wyśrodkowanie, rozrzut, kształt
  • Zmienność w procesie pomiarowym a zmienność procesu produkcyjnego
  • Podstawowe pojęcia metrologiczne (pomiar, rozdzielczość, wartość rzeczywista, wartość odniesienia, urządzenie pomiarowe)
  • Aspekty oceny systemów pomiarowych – powtarzalność, odtwarzalność i dokładność
  • Optymalizacja badań systemów pomiarowych w oparciu o model PISMOEA
  • Wpływ systemu pomiarowego na ocenę zdolności procesu i poprawną kwalifikację wyrobu
  • Procedura typu I (badanie Cg/Cgk) – wstępna ocena powtarzalności i dokładności systemu pomiarowego
  • Procedura typu II - badanie GRR metodą ARM
    • zasady stosowania, dobór próbek do badania
    • interpretacja algorytmu obliczeniowego (MS Excel)
    • interpretacja współczynników AV, EV, GRR, PV i TV
    • interpretacja współczynnika ndc (number of distinct categories)
    • wyznaczanie współczynnika %GG w odniesieniu do zmienności próbek, tolerancji lub zdolności procesu
    • metoda ANOVA - omówienie
      • pojęcie interakcji i jego praktyczne zastosowania
      • porównanie a wyników metodą ARM oraz ANOVA
    • eksperyment pomiarowy: badanie GRR cech ciągłych
  • Procedura typu III (badanie GRR w systemie bez wpływu operatora) - założenia, opis badania
  • Badanie GRR w pomiarach niepowtarzalnych
    • założenia dotyczące analizy systemów do pomiarów niepowtarzalnych
    • przygotowanie próbek – warunki niezbędne do uzyskania pozytywnego wyniku badania
    • zasady przeprowadzania eksperymentu (model eksperymentu, randomizacja)
    • analiza danych metodą ANOVA - interpretacja wyników
  • Atrybutywne systemy pomiarowe:
    • wprowadzenie, przygotowanie próbek, warunki przeprowadzania badania
    • metoda kappa: obliczenia i interpretacja wyników
    • ocena i interpretacja efektywności, fałszywych alarmów oraz błędnych akceptacji.
    • eksperyment pomiarowy: wykorzystanie metody kappa w ocenie wzrokowej
    • metoda detekcji sygnału: warunki stosowania, przygotowanie próbek, przeprowadzenie eksperymentu, obliczenia i interpretacja wyników
  • Zalecenia podręcznika AIAG MSA oraz wymagania normy IATF 16949 w zakresie planowania i oceny systemów pomiarowych
  • Wybrane wymagania specyficzne klientów w zakresie oceny systemów pomiarowych (Ford, VDA)
  • Szczególne przypadki systemów pomiarowych (nieopisane w podręcznikach)
  • Podsumowanie szkolenia – pytania i odpowiedzi

Uczestnicząc w szkoleniu:

  • Zrozumiesz cele badania systemu pomiarowego.
  • Poznasz składowe wpływające na zmienność pomiaru.
  • Dowiesz się, jak poprawnie dobierać system pomiarowy do ocenianej charakterystyki.
  • Nauczysz się przeprowadzać badania GRR i interpretować uzyskane wyniki.
  • Nauczysz się przeprowadzać badania systemów atrybutywnych i interpretować wyniki.
  • Poznasz wymagania IATF oraz niektórych klientów w zakresie analizy systemów pomiarowych.

 

Adresaci szkolenia:

  • W szkoleniu powinna uczestniczyć cała kadra średniego i wyższego szczebla, odpowiedzialna za zapewnianie jakości, a w szczególności pracownicy działów jakości oraz działów pomiarowych odpowiedzialni za dobór i ocenę systemów pomiarowych. Szkolenie jest zalecane również dla osób uczestniczących w procesach projektowych z uwagi na konieczność prawidłowego stosowania MSA w Planach Kontroli.

 

Czas trwania:
  •  2 dni (16 godzin dydaktycznych)